自持式設(shè)計,專注一維或二維測量平面、平行或圓柱表面的內(nèi)部、外部、高度、深度、階梯和距離等任何幾何特征尺寸。
TESA MICRO-HITE實現(xiàn)一維和二維測量的強大功能和高性能,使用TESAIG-13測頭程序化功能探測行為誤差。